Doctora en Ingeniería Metalúrgica y de Materiales de la Universidad de Sao Paulo. La profesora Gómez investiga sobre métodos de caracterización no destructivos para establecer las propiedades mecánicas en película delgadas. Su técnica principal se basa en la medición de esfuerzos residuales empleando difracción de rayos-X (XRD). A diferencia de las técnicas convencionales basadas en la deflexión para medir los esfuerzos residuales en el material, su trabajo usa XRD para determinar medidas por gradiente sin afectar la muestra. También emplea la técnica de XRD para analizar y caracterizar las diferentes fases presentes en materiales compuestos. La caracterización precisa de películas delgadas es esencial para optimizar los procesos de deposición y, por ende, las propiedades de la película resultante. También ha sido pionera en el estudio y la comprensión de los efectos mecánicos y la morfología en películas delgadas de múltiples capas y en el estudio de gradientes de esfuerzos residuales en recubrimientos duros.