Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Gentle and fast atomic force microscopy with a piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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Gentle and fast atomic force microscopy with a piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications
Juan Camilo Acosta, Jérôme Polesel-Maris, François Thoyer, Hui Xie, Sinan Haliyo, Stéphane Régnier
Producción: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)