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From local to global analysis of defect detectability in infrared non-destructive testing

  • J. F. Florez-Ospina
  • , H. D. Benitez
  • Pontificia Universidad Javeriana
  • Université Laval

Producción: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

25 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'From local to global analysis of defect detectability in infrared non-destructive testing'. En conjunto forman una huella única.
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