Huella
Profundice en los temas de investigación de 'From local to global analysis of defect detectability in infrared non-destructive testing'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
From local to global analysis of defect detectability in infrared non-destructive testing
J. F. Florez-Ospina, H. D. Benitez
Producción: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)