Diseño y construcción de una unidad para espectroscopia VIS de reflexión con ángulo variable.

Utilizando espectroscopia de reflexión a través de los parámetros de elipsometría nula de radiación VIS entre 400 y 800 nm e IR entre 800 y 1700 nm para medir el cambio de polarización sobre las superficies de interfase de películas delgadas, se obtendrá el patrón de reflexión en función de la longitud de onda y se medirá la dependencia del índice de refracción de las películas con la longitud de onda. Se podrá analizar los principales mecanismos de la radiación con este material.