Diseño y construcción de una estación de elipsometría VIS E IR cercano para caracterización de películas delgadas.

Se diseñara y construirá una estación de ¿elipsometría nula¿ de radiación en la región de VIS e IR cercano, 300 y 1700 nm, dedicada a la medición del índice de refracción y espesor de películas delgadas. Se hallara en tiempo real el cambio de polaridad de un haz monocromático con la rotación del polarizador y analizador fijo. La supervisión y control del sistema se hará con dispositivos electronios y PC.