Detalles del proyecto
Descripción
Desarrollo de una unidad para la medición y análisis de los espectros discretos obtenidos por reflectometría y polarimetría de radiación VIS reflejada en interfases y capas delgadas dieléctricas, a través de la supervisión y control con un pc asistido con tarjetas NI (DAQ) y programación LabVIEW.
| Estado | Finalizado |
|---|---|
| Fecha de inicio/Fecha fin | 10/01/06 → 09/04/07 |
Financiación de proyectos
- Interna
- PONTIFICIA UNIVERSIDAD JAVERIANA