Diseño e implementación de una unidad de reflectometría de radiación VIS.

Se diseñará e implementará una unidad de reflectometría y polarimetría de radiación de 400 a 900 nm, dedicada a la medición de la dispersión de intensidad, longitud de onda y cambio de estado de polarización de radiación reflejada sobre interfases y/o películas delgadas dieléctricas. Se halla el índice de refracción de la muestra. El control de parámetros de trabajo de dispositivos, el registro, visualización y análisis de datos se hará con tarjetas NI (DAQ) y programación LabView.