Caracterización fotorefractiva y termorefractiva de capas delgadas optoelectrónicas en el IR cecano y medio.

Jimenez Borrego, Luis Camilo (Investigador principal)
Mendez Pinzon, Henry Alberto (Coinvestigador)
Paez Sierra, Beynor Antonio (Coinvestigador)

Proyecto: Investigación

Descripción

1. Desarrollo de una primera etapa de sistemas de dedicados a la caracterización de fotorefracción en capas delgadas.

Estado	Finalizado
Fecha de inicio/Fecha fin	04/12/00 → 03/06/02

Financiación de proyectos

Interna
PONTIFICIA UNIVERSIDAD JAVERIANA