Detalles de los equipos
Descripción
Modelo: XE7. Equipo para analizar variedad de materiales a escala micro y nanométrica, con alta resolución en z, obteniendo características de rugosidad y rigidez de la muestra.
Servicios
Análisis de muestras planas a escala nanométrica, medición de perfiles de alturas, rugosidad y rigidez.
Información
| Nombre | Microscopio de Fuerza Atómica (AFM). Modelo: XE7 |
|---|---|
| Fecha de adquisición | 23/10/18 |
| Fecha de baja | 15/10/48 |
Huella digital
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