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Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)

Equipo / instalación: Equipo

    Detalles de los equipos

    Descripción

    Modelo: XE7. Equipo para analizar variedad de materiales a escala micro y nanométrica, con alta resolución en z, obteniendo características de rugosidad y rigidez de la muestra.

    Huella digital

    Explore las áreas de investigación en las que se ha utilizado este equipo. Estas etiquetas se generan con base en los resultados relacionados. Juntos, forma una huella digital única.