Diseño y construcción de una estación de elipsometría VIS E IR cercano para caracterización de películas delgadas.

1. Desarrollo de una primera etapa de una estación dedicada a la medición y análisis de elipsometría nula en las superficies de interfaces en capas delgadas.2. Medición e índice de refracción y espesor de capas delgadas en tiempo real.3. Automatización de la estación con dispositivos electrónicos y asistencia de un PC.