Caracterización fotorefractiva y termorefractiva de capas delgadas optoelectrónicas en el IR cecano y medio.

Jimenez Borrego, Luis Camilo (PI)
Mendez Pinzon, Henry Alberto (CoI)
Paez Sierra, Beynor Antonio (CoI)

Project: Research

Description

1. Desarrollo de una primera etapa de sistemas de dedicados a la caracterización de fotorefracción en capas delgadas.

Status	Finished
Effective start/end date	04/12/00 → 03/06/02

Project funding

Internal
PONTIFICIA UNIVERSIDAD JAVERIANA