Caracterización fotorefractiva y termorefractiva de capas delgadas optoelectrónicas en el IR cecano y medio.

Para el análisis de las propiedades ópticas y eléctricas de materiales optoelectrónicos, se propone estudiar y analizar a través de resultados de pruebas experimentales con capas delgadas de óxidos de metal de respuesta óptica y eléctrica de estas capas bajo un régimen de variaciones térmicas producidas por incidencia de radiación infrarroja y calentamiento por conducción. Para esto se caracteriza la conductividad, transmitancia y reflactancia a la radiación bajo cambios de temperatura del material.